1、首先，對你的目標化合物進行紫外吸收光譜的測試。找出最大吸收波長。
2、選擇紫外最大吸收波長為激發波長，對你的目標化合物進行熒光光譜的測試，得到激發波長。
3、以最大吸收波長和熒光波長找已知的熒光量子產率的參比物，比如 硫酸奎寧。參比已知的熒光量子產率的參比物表格可以百度。
4、分別測試同種溶劑中的目標化合物和參比熒光物的紫外吸收吸光度（一般在吸光度A<1）和相對熒光強度，并對熒光峰分別積分得到面積。
5、計算：參見量子產率計算公式。
掃標準物質我待測品呢
熒光分光光度計是用于掃描液相熒光標記物所發出的熒光光譜的一種儀器。其能提供包括激發光譜、發射光譜以及熒光強度、量子產率、熒光壽命、熒光偏振等許多物理參數，從各個角度反映了分子的成鍵和結構情況。通過對這些參數的測定， 不但可以做一般的定量分析, 而且還可以推斷分子在各種環境下的構象變化， 從而闡明分子結構與功能之間的關系。熒光分光光度計的激發波長掃描范圍一般是190~650nm，發射波長掃描范圍是200~800nm?？捎糜谝后w、固體樣品（如凝膠條）的光譜掃描。
很多文獻上紫外吸收光譜和熒光光譜譜圖的縱坐標都寫a.u.，但實際上兩者單位是不同的，紫外光一般用吸光度（Absorbance Unit，簡寫A.U.）。
一般說來，熒光光譜儀輸出百的原始數據單位是CPS，即每秒鐘接受到的熒光光子度數量。但這個數據是無法重現的，因為每一臺儀器的問光源亮度不同，狹縫寬度可以自由設置，檢測器答靈敏度也有差異。所以習慣上使用au。同一次測試的專各個數據可以放到同一個坐標系中用au比較相對大小。但不同屬來源的數據是不能用au進行直接比較的。
擴展資料：
熒光強度F與熒光物質濃度c，激發光強度I0的關系為
。其中
為熒光量子產率，ε為摩爾吸光系數，l為液池厚度。該式表明熒光強度與量子產率成正比，但與熒光物質濃度沒有直線關系。稀溶液時，上式簡化為
，此時熒光強度與熒光物質濃度成正比。實際測定時，如果只取空間分布以及光譜的一部分，則有
（k為與測定體系有關的常數）。
磷光是一種緩慢發光的光致冷發光現象。當某種常溫物質經某種波長的入射光（通常是紫外線或X射線）照射，吸收光能后進入激發態（通常具有和基態不同的自旋多重度），然后緩慢地退激發并發出比入射光的波長長的出射光（通常波長在可見光波段）。當入射光停止后，發光現象持續存在。發出磷光的退激發過程是被量子力學的躍遷選擇規則禁戒的，因此這個過程很緩慢。所謂的在黑暗中發光的材料通常都是磷光性材料，如夜明珠。
當處于基態的分子吸收紫外－可見光后，即分子獲得了能量，其價電子就會發生能級躍遷，從基態躍遷到激發單重態的各個不同振動能級，并很快以振動馳豫的方式放出小部分能量達到同一電子激發態的最低振動能級，然后以輻射形式發射光子躍遷到基態的任一振動能級上，這時發射的光子稱為熒光。熒光也可以說成余輝時間≤10^(-8)s者，即激發一停，發光立即停止。這種類型的發光基本不受溫度影響。
磷光受激發分子的電子在激發態發生自旋反轉，當它所處單重態的較低振動能級與激發三重態的較高能級重疊時，就會發生系間竄躍，到達激發激發三重態，經過振動馳豫達到最低振動能級，然后以輻射形式發射光子躍遷到基態的任一振動能級上，這時發射的光子稱為磷光。當然，磷光也可以說成余輝時間≥10^(-8)s者，即激發停止后，發光還要持續一段時間。根據余輝的長短，磷光又可以分為短期磷光（余輝時間≤10^(-4)s）和長期磷光（余輝時間≥10^(-4)s）。磷光的衰減強烈的受溫度影響。
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。
儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。
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